Im Automatic Wafer Test treten häufig drei wesentliche Probleme auf: schlechte Signalperformance, Platzmangel in der Fertigung und hohe Anschaffungskosten für Equipment.
Direct Docking von Turbodynamics ist seit über 10 Jahren im Einsatz – bei Testhäusern ebenso wie bei fast allen IDM-Herstellern. Hoher Automatisierungsgrad und Wiederholgenauigkeit im µm – Bereich bei Dockingkräften über 3.000 N sorgen für maximale Performance.
Direct Docking ist wartungsfrei und kompatibel für alle bestehenden Systeme von 8’’ und 12’’ Probern.
Ein Auflistung der kompatiblen Systeme u.a. von Advantest, Cohu, Terradyne, National instruments und SPEA finden Sie hier:
- V93K ATH test head
- Micro P-Dock® Solution - V93K CTH test head
- Micro P-Dock® Solution - V93K STH test head
- Micro P-Dock® Solution - V93K LTH test head
- Micro P-Dock® Solution - T2000 26 slot
- Micro P-Dock® Solution - T2000 52slot
- Micro P-Dock® Solution
- LTXC Fusion MX
- Micro P-Dock® Solution - LTXC Fusion EX
- Micro P-Dock® Solution - LTXC Fusion LX
- P-Dock® Solution - LTXC Diamond X1
- Micro P-Dock® Solution - LTXC Diamond X2
- Micro P-Dock® Solution - LTXC DxV
- Micro P-Dock® Solution
- Eagle Test 364
- Micro P-Dock® Solution - Micro Flex
- Micro P-Dock® Solution
Integra Flex
- Micro P-Dock® Solution - Ultra Flex HD - 12 Slot
- Micro P-Dock® Solution - Ultra Flex HD - 24 Slot
- Micro P-Dock® Solution
- STS T1 /M1 and M2
- Micro P-Dock® Solution - STS T2 /M1 and M2
- Micro P-Dock® Solution - STS T4 /M1 and M2
- Micro P-Dock® Solution
- DOT 800
- Micro P-Dock® Solution
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